• SIMS a hloubkové profilování
• Základy využití difrakčních metod v materiálovém výzkum
• Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM)
• Elektronová tomografie nanostrukturních materiálů
• Spektroskopické metody XPS a AES a jejich vyhodnocení
• Materiálový výzkum s využitím synchrotronového záření
• Transmisní elektronová mikroskopie - techniky TEM, STEM, HRTEM
• Měření tenkých vrstev v průmyslových aplikacích

SPONZORUJÍCÍ FIRMY:

ORGANIZAČNÍ POKYNY:

Registrační poplatek zahrnuje vložné, stravné a ubytování. Vložné činí 700 Kč pro individuální členy ČVS a pro zaměstnance kolektivních členů ČVS, 300 Kč pro studenty - členy ČVS (potvrzení o studiu), 500 Kč pro ostatní studenty (potvrzení o studiu) a 800 Kč pro ostatní účastníky. Vložné zahrnuje i poplatek za sborník. Pro účastníky bude zajištěno ubytování za 250 Kč za noc, a stravování 50 Kč za snídani, 100 Kč za oběd a večeři podle požadků uvedených v přihlášce.
Částku za registrační poplatek laskavě uhraďte na účet ČVS:
ČSOB, a.s., Václavské nám. 2
115 20 Praha 1
č.účtu: 482836803/0300
Na platebním příkazu uveďte variabilní symbol 0106 a jako specifický symbol napište svoje devítimístné telefonní číslo uvedené na přihlášce. Potvrzení o zaplacení zašlete poštou, faxem nebo e-mailem.
Česká vakuová společnost
paní Hana Kacafírková
V Holešovičkách 2
180 00 Praha 8
fax 221912297
e-mail cvs(zavináč)vakspol.cz

Pokud se nemůžete přihlásit elektronicky, kontaktujte sekretariát ČVS.